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产品详情
X线膜厚仪
仪器名称:X线膜厚仪
仪器型号:COSMOS-2X
仪器厂家:天翊

COSMOS-2X萤光X线膜厚计特点:   
1. X线源:油浸式由上而下垂直照射方式。   
2. 检出器:比例计数管。   
3. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。   
4. 准直仪:采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。   
5. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。   
6. 多能谱分析器:256高频分析器,光谱自动分析。   
7. 测量项目:单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.   
8. 测量范围:原子序22 ~ 82 , 最小量测值0.05um.   
9. 测量机能:同一点重复测定机能,输出形式设定,能谱测定.   
10. 底材补正功能:当样品与标准片的底材不同时,可作底材补正。   
11. 本机俱有自动安全断电系统功能.   
12. 由锁匙开关来控制X 线输出,以防止外人任意操作.   
13. 测量部主机尺寸:362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.   
14. 测量台尺寸尺寸:170 (W) ×100 (D) ㎜   
15. 移动量(X-Y-Z轴):70 ×70 ×80 ㎜.   
16. 使用电源:电压: AC100V/220V ±10V ; 50/60Hz 
 
COSMOS-2X萤光X线膜厚计适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业  
 
COSMOS-2X萤光X线膜厚计
COSMOS-1X萤光X线膜厚计
EX-3000 萤光X线膜厚计(半自动)
EX-3000 萤光X线膜厚计(全自动
脚注信息
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